Bruker M2 Blizzard
插入式桌上型XRF螢光光譜分析儀 - 大型樣品的最佳選擇
價格: 詢價
描述
Bruker 的M2 BLIZZARD 這款Micro-X 射線螢光光譜儀，可根據ASTM B568 以及DIN/ISO 3497的規範，以非破壞性的分析方式，量測材料的組成和多層塗佈層塗料的厚度。這項儀器採用
插入式的設計，因此非常適合扁平的超大尺寸樣品，例如印刷電路板。這款儀器可透過最先進的XSpect Pro 軟體進行操控。
完美搭配印刷電路板分析的解決方案
主要功能：
■ 插入式設計，以及可擴充的「超大尺寸」樣品平台
■ 20mm 的插入空間
■ 超大且非常穩定的樣品放置槽，方便進行樣品定位
新的 Xspect Pro 軟體
■ 新的 XData軟體可以管理各種量測方法和參考標準
■ 可設定組態的使用者量測介面和結果顯示螢幕
■ 自動儲存光譜，可進行後續的量測資料處理以及建檔
■ 使用者定義的容許誤差量，以快速判定合格／不合格
■ 「峰值標定功能」可針對未知成分進行定性分析
■ 包含標準量測報告
■ 選購功能：使用工業強化腳踏開關，開始／停止量測作業
■ 選購功能：可完全針對您的製程設計的統計製程管制(SPC) 功能
■ 清楚且簡單的介面，只需一條 USB訊號線，便能連接此儀器到電腦上
