Bruker S2 Picofox

世界上第一台微量分析 TXRF 光譜儀, 快速多元素痕量分析

S2的PICOFOX是世界第一個便攜、桌上型全反射式XRF (TXRF)。利用全反射原理的X射線熒光光譜,儀器對液體、固體、液體和污染物樣品,進行直接多元素微...
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描述

 

可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析,元素範圍Al-U,含量範圍ppb至100%

需要樣品量少,液體及懸浮物樣品1-50微升,粉末樣品10微克以內。

獨特的便攜式全反射螢光光譜分析儀,設備小巧,一體化結構設計,不需要任何輔助設備及氣體、液氮等,可拿到現場進行分析。

全自動進樣設計,分別適用於每天有少量樣品及大批量樣品的全自動分析。

第四代XFlash®SDD矽漂移探測器,採用高性能電子冷卻技術,不需要液氮,沒有任何消耗品。分辨率優於149eV at MnKa 100Kcps。
由於全反射無背景,螢光強度與元素含量直接成正比。標準檢量線工廠已校準完成,用戶不需要標樣就可以進行定量分析。

應用:水、廢水、土壤中的污染元素;血液、尿液、組織中的有毒元素;食品、醫藥、刑偵、環保、陶瓷、水泥、建材、地質等領域。

 

 

高性能全反射式TXRF的S2 PICOFOX,適合微量元素分析,其分析能力的檢測極限達到ppb等級。特別是針對微量樣品的各式應用,S2 PICOFOX的優點更是顯而易見,非常簡易的前處理,無需化學消化,直接將液體樣品或其他基質含量高且複雜的樣品,做上樣分析。

系統內置獨立的冷卻系統,所以PICOFOX不僅在實驗室,也可根據分析的需求以及採樣, 移至戶外使用,完全無需液態氮或其它冷卻系統支援。

 

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對於許多實際的分析應用,S2 PICOFOX更優於傳統的 AAS或ICP - OES分析系統。

TXRF與和ICP - OES都是同時多元素微量分析,但TXRF可分析鹵化物(ICP-OES無法分析鹵化物)。

TXRF分析一個樣品時所需最小樣品的奈克或微克。

內標定法使用簡單,適用於各種樣品類型和應用範圍的定量分析(從ppb~100%)

便攜式系統快速的現場分析

沒有矩陣或記憶效應,不須清洗進樣系統

維護成本低,不須使用大量化學試劑及元素標準品

單組或是25組自動進樣檯面功能, 可使用於每日少量樣品或大批量樣品的全自動檢測

 

TXRF可發揮的應用領域範圍

 

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優越的靈敏度與極低的檢測下限

 

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